试验程序及方法
时间:2013-09-12 21:33 来源:正航仪器 作者:网络工作组
试验程序及方法
通常,地面设备用的电子元器件进行较低等级的试验;航空电子设备用的元器件进行 较高等级的试验;而特殊要求的产品则进行更高等级的试验。有关标准规定：
①低温按有关标准规定在低温等级表3. 2. 2中选定一个温度。
②髙温按有关标准规定在高温等级表3. 2. 4中选定一个温度。
③高温、低温下保持时间分别为30分钟。
④转换时间为15分钟。
⑤循环次数按有关标准规定3次或5次。
一次循环的过程为图3. 2. 2所示。图中：TA为低温 值?山为高、低温下保持时间；Tb为高温值仏为转换时 间;T。为室温值;A为次循环的起点。
有时，将转换时间G小于3分钟的温度循环试验称为 温度冲击试验。
半导体三级管的温度循环试验是将非工作状态的半 导体三级管先后置于低温和高温箱中,共进行5次循环，
通常,地面设备用的电子元器件进行较低等级的试验;航空电子设备用的元器件进行 较高等级的试验;而特殊要求的产品则进行更高等级的试验。有关标准规定：
①低温按有关标准规定在低温等级表3. 2. 2中选定一个温度。
②髙温按有关标准规定在高温等级表3. 2. 4中选定一个温度。
③高温、低温下保持时间分别为30分钟。
④转换时间为15分钟。
⑤循环次数按有关标准规定3次或5次。
一次循环的过程为图3. 2. 2所示。图中：TA为低温 值?山为高、低温下保持时间；Tb为高温值仏为转换时 间;T。为室温值;A为次循环的起点。
有时，将转换时间G小于3分钟的温度循环试验称为 温度冲击试验。
半导体三级管的温度循环试验是将非工作状态的半 导体三级管先后置于低温和高温箱中,共进行5次循环，
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